Main function

Measurement of absorbance, transmittance and diffuse/total reflectance spectra of liquid and solid samples (powders, bulk, thin films) over the UV-Vis-NIR range (190–2700 nm) using a double-beam spectrophotometer with a 60 mm integrating sphere

Technical specifications

• Model: JASCO V-770 UV-Visible/NIR Spectrophotometer (JASCO Corp., Japan)
• Optical system: Double beam, single monochromator with dual gratings (Czerny-Turner)
• Wavelength range: 190 – 2700 nm (3200 nm with optional extension kit)
• Wavelength accuracy: ±0.3 nm (656.1 nm), ±1.5 nm (1312.2 nm)
• Spectral bandwidth: 0.1 – 10 nm (UV-Vis), 0.4 – 40 nm (NIR)
• Photometric range: -4 to 4 Abs (UV-Vis), -3 to 3 Abs (NIR)
• Detectors: PMT (UV-Vis), Peltier-cooled PbS (NIR)
• Scan speed: 10 – 4000 nm/min
• Software: Spectra Manager
• Accessory: ISN-923 integrating sphere, Ø60 mm, BaSO4 coated, 200 – 2500 nm
• Sphere sample size (reflectance): min 20 × 20 × 0.5 mm, max 65 × 50 × 25 mm
• Sphere cell (transmittance): rectangular cell, path length 5 – 50 mm
• Funding source: Dr. Tuan Anh

Purpose of use

💥UV-Vis-NIR spectrophotometer plays a crucial role in the research and development of advanced materials such as semiconductors, photovoltaic thin films, and thermoelectric materials. The instrument enables measurements of absorption, transmittance, and reflectance spectra over a wide spectral range, with a high spectral resolution and a good wavelength accuracy, allowing determination of the optical bandgap, absorption coefficient, and characteristic electronic transitions. Thanks to its high sensitivity and the integration of an integrating sphere, the system can analyze thin films, powders, and bulk materials, including highly scattering systems. In addition, the instrument supports quantitative data analysis using Tauc and Kubelka-Munk methods, thereby shortening the time required to evaluate optical properties and optimizing material fabrication processes.
💥Hệ quang phổ UV-Vis-NIR Spectrophotometer đóng vai trò quan trọng trong nghiên cứu và phát triển vật liệu tiên tiến như vật liệu bán dẫn, màng mỏng quang điện và vật liệu nhiệt điện. Thiết bị cho phép đo phổ hấp thụ, truyền qua và phản xạ trong dải rộng, với độ phân giải phổ và độ chính xác bước sóng cao, giúp xác định năng lượng vùng cấm, hệ số hấp thụ và các chuyển mức điện tử đặc trưng. Nhờ độ nhạy cao và khả năng tích hợp cầu tích phân, hệ có thể phân tích cả mẫu màng mỏng, bột và vật liệu khối, bao gồm cả các hệ tán xạ mạnh. Ngoài ra, thiết bị cho phép xử lý dữ liệu định lượng thông qua phương pháp Tauc và Kubelka-Munk, góp phần rút ngắn thời gian xác định tính chất quang học và tối ưu hóa quy trình chế tạo vật liệu.